|
UMIN-CTR 更新履歴 |
|
 UMIN-CTR ホーム |
用語の説明（簡易版） |
用語の説明（詳細版）--準備中 |
ＦＡＱ |
| 利用者名： | UMIN ID： |
| UMIN試験ID | UMIN000023682 |
| 受付番号 | R000025754 |
| 科学的試験名 | てんかん病態下の脳内ネットワーク機構と機能可塑性の解明 -頭蓋内電極を用いた低頻度大脳電気刺激法による検討- |
| 一般公開日（本登録希望日） | 2016/08/19 |
| 最終更新日 | 2021/02/21 21:24:25 |
| 通番 | 処理区分 | 最終更新日 | 更新項目 | |
| 1 | 新規登録 | 2016/08/19 09:48:04 | ||
| 2 | 更新 | 2017/08/20 13:03:08 | 試験進捗状況/Recruitment status |
|
| 3 | 更新 | 2021/02/21 21:19:55 | 責任研究者名/1st name of lead principal investigator 責任研究者姓/Last name of lead principal investigator 責任研究者名/1st name of lead principal investigator 責任研究者姓/Last name of lead principal investigator 郵便番号/Zip code 試験問い合わせ窓口担当者名/ 試験問い合わせ窓口担当者姓/Last name of contact person 試験問い合わせ窓口担当者名/ 試験問い合わせ窓口担当者姓/Last name of contact person 郵便番号/Zip code 実施責任組織/Name of primary sponsor 住所1/Address1 組織名/Organization 組織名/Organization 住所/Address 住所/Address 電話/Tel Email/Email |
|
| 4 | 更新 | 2021/02/21 21:24:25 | 倫理委員会による承認日/Date of IRB フォロー終了(予定)日/Last follow-up date その他関連情報/Other related information |
