利用者名: UMIN ID:
UMIN試験ID | UMIN000035757 |
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受付番号 | R000040731 |
科学的試験名 | 半導体SPECTにおける日本人正常範囲検証 |
一般公開日(本登録希望日) | 2019/03/25 |
最終更新日 | 2020/08/05 09:12:17 |
通番 | 処理区分 | 最終更新日 | 更新項目 | |
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1 | 新規登録 | 2019/02/03 09:24:19 | ||
2 | 更新 | 2019/04/30 13:17:28 | 責任研究者名/1st name of lead principal investigator 責任研究者姓/Last name of lead principal investigator 責任研究者名/1st name of lead principal investigator 責任研究者姓/Last name of lead principal investigator 郵便番号/Zip code 試験問い合わせ窓口担当者名/ 試験問い合わせ窓口担当者姓/Last name of contact person 試験問い合わせ窓口担当者名/ 試験問い合わせ窓口担当者姓/Last name of contact person 郵便番号/Zip code 組織名/Organization 組織名/Organization 住所/Address 住所/Address 電話/Tel Email/Email |
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3 | 更新 | 2019/04/30 13:19:51 | 試験進捗状況/Recruitment status 倫理委員会による承認日/Date of IRB フォロー終了(予定)日/Last follow-up date |
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4 | 更新 | 2020/08/05 09:10:06 | 主な結果/Results 最初の試験結果の出版日/Date of the first journal publication of results 評価項目/Outcome measures |
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5 | 更新 | 2020/08/05 09:11:21 | 試験進捗状況/Recruitment status 解析終了(予定)日/Date analysis concluded |
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6 | 更新 | 2020/08/05 09:12:17 | 組み入れ参加者数/Number of participants that the trial has enrolled |